CTP10 - 无源光器件测试平台
性能强大的无源光器件测试平台，适用于测试WDM器件和光子集成电路
主要优点
扫频测量插损（IL）、偏振相关损耗（PDL）或回损（RL）
业内*支持全波段PDL测量，覆盖从1260 nm到1620 nm的波长
以100 nm/s的速度进行单次扫描，动态范围>70 dB，精度为±5 pm，分辨率为1 pm
配备强大的图形用户界面（GUI），内置*分析功能
通过SCPI命令实现全自动化操作
采用可扩展的架构，适用于研发和制造环境
描述
CTP10是一种模块化测量平台，可高效地全天候测试无源器件。通过它，您能够动态范围、速度和分辨率执行插损（IL）、偏振相关损耗（PDL）或回损（RL）测量。CTP10是测量高速WDM网络中的新型大端口数光器件和和光子集成电路（PIC）的理想设备。它可以结合T100S-HP系列扫频可调谐激光器，在几秒钟内完成IL-RL或IL-PDL测量。
下一代平台和模块
CTP10平台可安装多达10个热插拔模块，包括用于光谱鉴定的各种关键模块（IL-RL OPM2或IL-PDL模块）、波长控制模块（SCAN SYNC和FBC模块）以及检测模块（OPMx模块）。这些*集成的模块可以热插拔，从而大大减少设置时间，并提供一个非常灵活、不断发展的测试解决方案。
CTP10内置操作系统，可处理大量的数据。它还提供一个可扩展的架构，由多8个测试站共享一个或多个可调谐激光器，并添加一个辅助主机，以测试100多个端口。
性能强劲
CTP10可进行非常迅速的扫频IL RL或PDL光谱测量。它提供不折不扣的高性能，并在全速测试时达到规格要求。OPMx免测距系列光检测器能够以100 nm/s的速率、1 pm的分辨率进行扫描，测量的动态范围超过70 dB，从而大幅提高制造和研发能力。OPMx检测器还可以测量高达10 dB/pm（10000 dB/nm）的清晰光谱特征，使CTP10成为未来测量波长可选择开关（WSS）或环形谐振器等下一代器件的可靠工具。
GUI强大直观
CTP10围绕三个关键原则被开发出来：集成、性能和自动化。其内置软件提供强大、直观的GUI，从而简化测试配置和测量过程。CTP10可无缝地控制外接可调谐激光器，让您专注于真正重要的事情：测量和分析数据。GUI集成了一整套工具以分析通带（如WDM或WSS）和阻带滤波器。
