设计用于测量背向反射（回损）对转发器原型影响的可变背向反射器。
主要优点
55 dB反射范围
轻松的实时操作
OSICS平台内的单插槽模块
应用
模拟非配对连接器的累积反射
回损测量校准
元器件测试
激光器开发和生产
OTDR测试
描述
EXFO的OSICS BKR可变背反射器可模拟光纤系统内所有光接口上的反射率。它是测试背向反射对应答器原型造成的影响，以及在PON/WDM系统中对发射器和接收器进行压力测试的完美研发工具。
大反射范围
OSICS BKR集成有可变反射器，它可设置为3至55 dB，并在很大的波长范围内工作。其大反射范围使您能够采用单台仪表涵盖任何设置。
轻松的实时操作
可在用户友好的前面板显示屏上实时调整或读取反射率。
新增功能
EXFO的OSICS模块配备多个出色的功能，包括远程命令、高性能可调谐激光源、光开关以及能够容纳多达8个模块等。
